尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡
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簡介：尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用獨特的光學科技與制造技術，尼康享譽全球的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備卓越的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡（N.A. 1.49），以此為...
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尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用獨特的光學科技與制造技術，尼康享譽全球的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備卓越的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡（N.A. 1.49），以此為基礎又結合了由UCSF（University of California，San Francisco舊金山加州大學）所授權的SIM技術就形成了全新的N-SIM系統。N-SIM在實現超級分辨率的同時還能以0.6秒/幀的時間分辨率實現了業內最高的超分辨率圖像獲取速度。
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡結合UCSF授權的“結構化照明顯微術（S tructured I llumination M icroscopy）”與尼康聲譽卓著的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡（N.A. 1.49）N-SIM幾乎實現了傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡提供業內最高的超分辨率圖像獲取速度，可實現0.6秒/幀2D SIM與1秒/幀3D SIM的時間分辨率，能有效進行活細胞成像。
尼康nikon N-SIM 超分辨率顯微鏡使用選配的雙相機組件*為顯微鏡鏈接兩臺EMCCD相機。可使用488nm與561nm激發光實現同時雙波長超分辨率成像。 *Andor Technology Ltd
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