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尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡

名稱:其他儀器與工具

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型號:

簡介:尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡實現常規熒光共聚焦成像和快速光譜成像的完美結合,隨著科研人員需求的不斷增加,探測到更多的信號甚至是光譜信息變得越來越必要,尤其在區分顏色比較接近的熒光的時候。創新的A1si激光共聚焦顯微...

  • 產品介紹
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡實現常規熒光共聚焦成像和快速光譜成像的完美結合,隨著科研人員需求的不斷增加,探測到更多的信號甚至是光譜信息變得越來越必要,尤其在區分顏色比較接近的熒光的時候。創新的A1si激光共聚焦顯微鏡帶給用戶的靈活性,高速度以及光譜功能,遠遠超出常規共聚焦顯微鏡。配備的常規熒光探測器和光譜探測器,可以滿足多種科研領域的應用需求。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡1
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡單次掃描即可獲得320nm帶寬的光譜圖像。波長分辨率可以是2.5, 5,和 10 nm. 選用10 nm分辨率時, 單次掃描可獲得波長范圍高達320 nm,遠遠超出其他類似系統。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡簡單,靈活的顯微鏡控制。只需單擊一個圖標,即可實現目鏡觀察和共聚焦拍攝之間的光路切換。通過A1si的系統軟件,用戶可以輕松控制顯微鏡的各個部件,將更多的時間用于拍攝圖像。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡2
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡透射光拍攝。在拍攝光譜圖像和標準共聚焦圖像的同時,A1si還可以拍攝包括DIC,明視場,相差在內的透射光圖像,以便在組織和細胞中更好的進行熒光標記的定位。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡FRAP觀察。通過macro程序,可以進行FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching光漂白后的熒光恢復) 實驗. 激光精確定位到用戶指定的任意區域(圓形,矩形,任意多邊形,點,線,甚至環形)進行光漂白。其他FRAP技術,包括iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching)同樣得到支持。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡3
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡對光譜圖像進行時間動態記錄。由于單次拍攝即可得到全光譜圖像,所以A1si可以對光譜圖像進行動態拍攝。拍攝時間序列的模式有:最快模式/固定時間間隔模式/用戶自定義拍攝時間表模式)
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡高效率的熒光透過技術。熒光光纖和探測器表面都使用了高效防反射涂層,將熒光信號的損失降到最低,實現光路的高透過率。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡4
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡高波長分辨率。通過使用精密設計的衍射光柵,可以實現高達2.5nm的光譜分辨率.此外還有5nm 和 10nm分辨率可選。不同的分辨率可以分別用來拆分光譜重疊的探針或同時對4個或更多的探針進行拍攝。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡采用偏光控制技術的光譜探測器。Nikon的DEES (Diffraction Efficiency Enhancement System衍射效率增強系統) 專利技術可以對偏振光進行控制,從而實現亮度的最大化。通過調整偏振光方向,衍射光柵的效率得到最優化,從而在從藍到紅的整個可見光范圍內提高廣譜數據的亮度和線性。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡6
 

尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡拍攝到真實的熒光顏色。由于采用了新的精確矯正技術,而且光譜分辨率和針孔大小無關,A1si可以精確探測到光譜信號,得到真實顏色。同其他的偽彩色系統相比,A1si可以實時觀察到真彩色的樣本。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡7
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡把對活細胞和組織的影響降到最低。通過單次激發就可以得到全光譜圖像,因此激光強度和PMT增益的調節變得簡單而快速。同時把熒光信號的衰減以及激光對標本的損傷降到最低。對于活細胞和組織,A1si是一套“溫柔”的系統
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡同時拍攝32通道的光譜圖像。A1si 采用了32 通道PMT,并革新了多重高速數字轉換電路和LVDS(Low Voltage Differential Signal低壓差分信號)高速串行傳輸技術,創造性地實現了單詞掃描得到32通道光譜信息,大大減少了拍攝時間,并實現了實時觀察。
尼康nikon A1si+/A1Rsi+ 共聚焦顯微鏡雙積分信號處理。新開發的DISP (Dual Integration Signal Processing雙積分信號處理) 技術提高了電子效率,避免了模/數轉換過程中熒光信號的損失。整個曝光期間,熒光信號得到全程記錄,有效提高了信噪比。

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