布魯克Bruker JV-QCVelox 半導體計量儀具有最佳HRXRD外延層的性能監控。布魯克Bruker JV-QCVelox 半導體計量儀領先的LED制造商的系統監控是他們的生產線首選。布魯克Bruker JV-QCVelox 半導體計量儀是基于行業標準JV-QC3,吞吐量的重要升級。通過使用最佳x射線源和光學技術,它的高吞吐量的重復性使快速反饋層的質量和結構在一個生產環境。像布魯克Bruker JV-QCVelox 半導體計量儀提供真正的自動化操作,與直接的水平樣本安裝,完全自動對齊,測量包括完整的映射沒有邊緣排除,和自動數據分析。除了布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀,包括更高的吞吐量和條形碼閱讀器來幫助生產力在生產環境中。
一個可選的機器人處理程序可以自動加載和測量從磁帶。布魯克Bruker JV-QCVelox 半導體計量儀是半導體基板的常規分析的理想工具,外延層結構和加工設備對所有化合物半導體晶片材料。