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艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統

艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統

名稱:其他儀器與工具

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簡介:艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試,是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統。具有...

  • 產品介紹
      艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試,是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統。具有高產能及低破片率的優點,非常適合用于進料端,芯片可依使用者定義自動分類到堆迭盒或卡式盒內,獨特的自動轉換技術可以大量節省人工轉換所需的系統待轉時間,并應用高科技化的技術,確保光伏芯片輸送系統中重要關鍵之一的低破片率。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統的產品特性和功能應用,如有疑問或者需要相關資料,請聯系長沙艾克賽普儀器設備有限公司www.jeraylynn.com,可提供樣機和相關工程師上門演示溝通,聯系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統圖片
艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統產品特性:
適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
高產能及 0.2% 以下之低破片率
2D 幾何計算檢測
芯片表面瑕疵檢測
微裂隙檢測
鋸痕檢測
Resistively/Thickness 測試
壽命測試
簡易的疑難排解程序
進料 : 堆迭盒 / 卡式盒
分類 : 堆迭盒 / 卡式盒

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