梅特勒-托利多 XP205 分析天平
名稱：精密分析天平
品牌：
型號：
簡介：梅特勒-托利多XP205 分析天平規格: XP205 分析天平 最大稱量范圍 220 g 可讀性 0.01 mg 線性 0.1 mg 重復性 0.015 - 0.03 mg 秤盤尺寸 78 x 73 mm 尺寸 263x487x322 mm...
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- 產品介紹
梅特勒-托利多XP205 分析天平規格:
XP205 分析天平
最大稱量范圍 220 g
可讀性 0.01 mg
線性 0.1 mg
重復性 0.015 - 0.03 mg
秤盤尺寸 78 x 73 mm
尺寸 263x487x322 mm (WxDxH)
靈敏度（溫度取樣泵漂移） 1 x 10^-6/°C •Rnt
外部砝碼校準 用戶砝碼
內部砝碼校準 ProFACT專業全自動校準技術專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校
接口 RS-232C
去皮范圍 0...220 g
防風罩可用高度 235 mm
穩定時間 1.5 s
最小稱量 (符合USP法規的典型值) 21 mg
最小稱量 (typical, U=1%, sd=2) 1.4 mg
靈敏度偏差 2x10-6·Rnt
靈敏度精度 2.0 x 10^-6 •Rnt
靈敏度穩定性 1 x 10^-6/a •Rnt
梅特勒-托利多XP205 分析天平標準特性:
SmartSens,無需用手接觸的天平操作
SmartGrid,革新性的網格秤盤
SmartScreen彩色顯示屏,觸摸屏實現舒適的操作
ErgoClips易巧稱量組件,可以安全放置所有去皮容器
LevelControl 天平未被置平時發出警告
自動且可拆卸的防風罩
ProFACT專業全自動校準技術
RS232 通訊接口
第二接口選件插槽 多種不同接口可供選擇
高度可調的內部防風罩
塑料保護罩
下掛稱量的專用掛鉤
可分離且可調節的操作終端
