馬爾文Malvern Zetasizer Nano S ZETA電位儀是一款科研級動態光散射系統,可進行亞微米顆粒、分子尺寸以及分子量的測量,具有性能高、功能多、便于使用的特點。
Malvern Zetasizer Nano S系統可升級為帶有ZETA電位測量功能的系統。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano S作為顆粒分析儀使用時,可增強對聚集體、對小顆粒、稀釋樣品,或高濃度樣品的測量;作為分子量分析儀使用時可進行分子尺寸及分子量的測量。Zetasizer Nano S無疑是最佳選擇。 其測定功能與頂級的Zetasizer Nano ZS系列相同。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano S ZETA電位儀靜態光散射測量可確定高分子溶解度測試的第二維里系數。

馬爾文Malvern Zetasizer Nano S ZETA電位儀粒度測量范圍:0.3 nm(直徑)至10微米,采用專利型 NIBS(非侵入式背散射)技術。
分子量測量最小可達980Da。
用于溶解度的第二維里系數測量。
全自動溫度趨勢測量。
樣品濃度范圍為0.1ppm至40%w/v。
蛋白質粒度可測量的稀釋度達0.1mg/mL (溶解酵菌)。
質量因子確保數據可靠性。
專家建議報告協助改善樣品備制或測量程序。
21 CFR Part 11 軟件選項可實現ER/ES合規性。
科研級軟件選項,為光散射專家提供了進一步分析描述運算法則的機會。
使用自動滴定儀選件進行自動測量。
流動模式功能可作為GPC/SEC粒度檢測器使用。
可選擇激光器,50mW,532nm,用于標準633nm激光器不能檢測的樣品
光學濾波片,改善熒光樣品的測量。
溫度范圍最高可達120ºC。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano S 系統日后可升級為帶有ZETA電位測量功能的系統。
Zetasizer Nano S在緊湊結構中包含了兩種技術,且擁有一系列選件及附件,以便優化并簡化不同樣品類型的測量。
動態光散射法用于測量粒度及分子大小。 該技術可測量布郎運動下移動顆粒的擴散情況,并采用斯托克斯-愛因斯坦關系將其轉化為粒度與粒度分布。 使用的非侵入式背散射技術(NIBS)使系統具有最高的靈敏度以及最高的動態粒度及濃度范圍。
靜態光散射法用于確定蛋白質與聚合物的分子量。 在此檢測方法中,檢測不同濃度下樣品的散射光強,并且繪制Debye曲線。 由此,可計算平均分子量和第二維里系數。
這種測量對整個系統的靈敏度和穩定性的要求非常高,意味著每個設計元素都進行了優化,以確保精度和可重復性。
該軟件的設計旨是不影響使用簡便性的情況下實現功能特點的豐富多樣。 標準操作程序(SOP)可簡化常規測量,質量因子可對成功測量進行確認,專家建議系統則可為數據說明提供協助。
MPT-2自動滴定器能夠自動對pH、電導率或任何添加劑改變所產生的效果進行研究。
|可拋棄性和可重復使用的樣品池系列可優化樣品量、濃度測量的優化,以及用于流量測量。
其它選件包括可改善熒光樣品測量的濾波器,溫度范圍高達120ºC,以及一個粘度計,用于確定樣品粘度達到技術要求的精確性。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano S 技術指標:
Zetasizer Nano S 顆粒粒度及分子大?。?/div>
測量范圍::0.3 nm - 10.0 微米*(直徑)。測量原理::動態光散射法最小樣品容積::12µL精確度:優于NIST可追溯膠乳標準的+/-2%精確性/可重復性::優于NIST可追溯膠乳標準的+/-2%靈敏:0.1mg/mL (溶菌酶)。
Zetasizer Nano S 分子量:
測量范圍::980Da – 20M Da*測量原理::靜態光散射法,使用德拜圖最小樣品容積::12µL(需要3-5種樣品濃度)精確度:+/- 10% 典型值精確性/可重復性::優于NIST可追溯膠乳標準的+/-2%溫度控制范圍:0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C 選裝光源:He-Ne 激光器 633nm,最大 4mW。激光安全::1類電源功率:100VA。
Zetasizer Nano S 重量與尺寸:
尺寸 (寬, 長, 高)::320mm, 600mm, 260mm(W,D,H)重量:21 kg。
Zetasizer Nano S 運行環境:
Operating temperature (°C):10°C – 35°C濕度::35% - 80%無冷凝。
Zetasizer Nano S 注解(N):
專利:Zetasizer Nano系列受以下專利保護:|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580,US6016195,JP11051843|高頻和低頻電泳 (M3)|EP1154266,US7217350,JP04727064 |使用同時檢測的光散射測量|EP2235501,CN102066901,JP2011523451,US20090251696|插入式樣品池表面電位測定WO2012172330。