FISCHERSCOPE X-RAY XUL
名稱：核輻射測試儀
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型號：
簡介：FISCHERSCOPE® XUL®設計為X-射線管和探測器系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況...
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- 產品介紹
FISCHERSCOPE® XUL設計為X-射線管和探測器系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是唯一一家實現了這種設計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
與WinFTM® V.6 軟件及校樣標準塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地適應于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
XUL儀器介紹:
適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能
頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用
能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化
畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）
圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
測量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量；
可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇
完整的統計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估
報告生成，數據輸出
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
菜單中的某些選擇項可授權使用
注：基礎WinFTM軟件版本不允許創建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，可在交貨前預先創建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
可選擇的Super WinFTM軟件（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能：
可隨意創建測量應用
可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
快速的頻譜分析以決定合金成分
技術參數:
1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從下至上；
3.X-射線管高壓設定可調節至最佳的應用：50kV，40kV或30kV；
4.視準器組：圓直徑為0.3；在附加費用的基礎上可選擇0.05X0.3mm長方形視準器
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大約為45kg；
6.帶槽箱體的內部尺寸：（高×寬×深）240 mm×360 mm×380mm）帶向上回轉箱門；
7.手動X-Y工作臺（平面板：360 mm寬×240 mm深），帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運行.
8.試件查看用標準的彩色攝像機；
9.測量開始/結束按鈕，及LED狀態指示燈與測試箱集成在一體。
主要特點:
FISCHERSCOPE® XUL設計為X-射線管和探測器系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是唯一一家實現了這種設計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
與WinFTM® V.6 軟件及校樣標準塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地適應于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
