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儀器中文名稱：掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:華東師范大學 儀器型號規格:JSM-5610 生產廠商:日本電子公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年):2004-07-14 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 其他 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hnc
2011-12-30
儀器中文名稱:三坐標測量機 儀器所在城市:福建省 泉州市 華僑大學機電學 儀器型號規格:GLOBAL STATUS 生產廠商:朗普公司 國別： 購買日期： 使用日期(年):2003-11-27 認證情況：未進行計量從認證但能定期檢定 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-ma
儀器中文名稱：掃描電鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:上海交通大學 儀器型號規格:S2150 生產廠商:Hitachi公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年):2004-07-14 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 其他 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢測
2011-12-29
儀器中文名稱：場發射掃描電鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:復旦大學 儀器型號規格:XL30FEG 生產廠商:PHILIPS 國別: 購買日期： 使用日期(年):2004-07-14 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 其他 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢測項目
儀器中文名稱：場發射掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:中國上海測試中心（上海市計量測試研究院） 儀器型號規格:JSM6700F 生產廠商:日本JEOL公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年):2006-12-29 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 其他 儀器負
儀器中文名稱：掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:復旦大學 儀器型號規格:XL-30 生產廠商:荷蘭飛利浦公司 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年):2006-10-31 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢測
儀器中文名稱：場發射掃描電鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:上海交通大學 儀器型號規格:Sirion 200 生產廠商:美國FEI公司 國別: 購買日期： 使用日期(年):2005-12-07 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢
儀器中文名稱：場發射掃描電鏡 儀器所在城市:上海市 所在單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所 儀器型號規格:JSM 6700F 生產廠商:日本電子有限公司 國別: 購買日期： 使用日期(年):2004-07-14 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 其他 儀器負責人: 肖先生 E-mail:
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