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儀器中文名稱:x射線光電子能譜儀
儀器所在城市及單位:北京市 清華大學
儀器型號規格:PHI-5300
生產廠商:美國PE-PHI公司
國別:美國
購買日期：
使用日期(年):
認證情況：已進行計量認證
主要技術指標:
主要附件及功能:1.固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣深度3nm 2.元素成分的深度分析 3.可進行樣品的原位處理適用于：納米薄膜材料，微電子材料，催化劑，摩擦化學，高分子材料的表面和界面研究。
儀器負責人: 肖先生
E-mail: shawn.xiao@hncswnet
檢測項目：
收費標準： 面議