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Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統

2016-03-18

硬體設備
半自動 LED wafer/chip 點測設備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而,傳統的方式存在 一些缺點,例如:準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等,以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。
致茂研發出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創新的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩定 快速之數據;在機構方面,58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個完整 的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173 則 具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測試需求。長沙艾克賽普儀器設備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區域的總代理,以下為長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統的技術參數及產品特點,如果您想對Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統有更多的了解,歡迎致電長沙艾克賽普儀器設備有限公司,聯系電話:0731-84284278 84284378。更多產品信息歡迎點擊:www.jeraylynn.com。長沙艾克賽普儀器設備有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統圖片
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統主要特色:
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統提供全方位電性測試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)
半自動精密LED wafer/chip點測設備
特制Edge Sensor具有點測針壓穩定,無疲乏與針壓變動問題
機械視覺定位系統,縮短人工操作時間
自動抽測功能
彈性調整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統
自動破片掃描演算法
遮光罩設計,杜絕背景光干擾
即時顯示點測資料分布圖
完善的量產測試統計報表及分析工具

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