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Accexp薄膜的厚度測(cè)量解決方案
2015-08-14
Accexp薄膜的厚度測(cè)量解決方案能準(zhǔn)確地測(cè)量透明的薄涂層，無需核裝置。Accexp薄膜的厚度測(cè)量解決方案可以省下核裝置每年需要的高昂維護(hù)費(fèi)。
Accexp薄膜的厚度測(cè)量解決方案由長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司提供，以下是Accexp薄膜的厚度測(cè)量解決方案的產(chǎn)品詳細(xì)信息。如果您有任何疑問或者相關(guān)需求，可以聯(lián)系0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司可以根據(jù)您的需求定制整套解決方案。
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ACCEXP-LJ-V 系列
超高速輪廓測(cè)量?jī)x -
超快的速度 64,000 個(gè)輪廓／秒 - 瞬時(shí)測(cè)量所有形狀
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ACCEXP-LJ-G 系列
高精度2D激光位移傳感器 -
LJ-G系列可在X及Z方向上精確測(cè)量物體表面的輪廓。可透過28種測(cè)量模式測(cè)量表面輪廓上的高度、寬度及間隙。
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